X射線衍射彎晶
X射線衍射彎晶廣泛應用于單色X射線熒光激發光譜儀、波長色散X射線熒光光譜儀、雙彎晶X射線熒光測量、以及彎晶譜儀和中子衍射等領域。
彎晶產品
產品概述
X射線衍射彎晶廣泛應用于X射線吸收精細結構譜 (XAFS) 分析、波長色散X射線熒光光譜儀 (WDXRF)、單色激發X射線熒光光譜儀、雙彎晶X射線熒光測量,以及彎晶譜儀和中子衍射等領域。蘇州譜摩科技有限公司致力于開發面向高分辨率或者高衍射強度應用的X射線衍射彎晶。其所采用的彎晶材料包括針對不同晶向取向的石墨、氟化鋰、鍺及硅系列;所制備的彎晶構型涵蓋了約翰、約翰森、對數螺線以及馮哈默斯等多種設計方案。譜摩科技為客戶提供從彎晶設計、制造到測試的全流程服務,并可提供一站式彎晶套裝解決方案。
工作原理
- 彎晶的設計原理基于布拉格衍射定律,即當入射X射線與晶體晶格相互作用、滿足布拉格衍射條件時,就會產生衍射現象。
- 通過合理選擇材料、晶向和彎晶的形狀,可以精確利用X射線的衍射效應,實現高效的X射線光學設計。
- 由于X射線在大多數物質中的折射率接近于1,衍射是為數不多的能改變X射線傳播方向的方案之一,從而使得彎晶成為一種重要的X射線光學器件。
- 采用雙曲構型設計的彎晶能夠實現最小像差的單色X射線點對點聚焦。
彎晶材料
譜摩科技通過大量對比測試,全面研究了各類彎晶材料,系統總結出各自的性能特點,從而為客戶提供針對性的優化設計方案。

彎晶構型
譜摩科技不僅能夠提供多種彎晶構型,而且對各構型的性能進行了詳盡測試和評估,以確保產品滿足不同應用場景下的需求。 還可承接橢球和Von Hamos等構型彎晶的設計、制作與集成業務。

應用案例
- 同步輻射光源和桌面型XAFS儀器大量采用球面和柱面彎晶進行原子精細譜分析,其分辨率可達到1eV。
- 彎晶是X射線熒光光譜 (XRF) 分析的重要發展方向之一。譜摩科技生產的彎晶不僅可用于Cr靶、Ag靶等光管中實現單色特征X射線的點對點聚焦,還可直接應用于熒光檢測分析,其中部分元素的檢出限可接近ICP-OES的檢測水平。
- 在XRF儀器的激發端采用彎晶,可有效降低光管產生的制動輻射背景,從而提升檢測性能;在發射端采用彎晶,則能實現優異的帶通濾波效果,減少探測器飽和風險,使重元素的檢出限降低至0.04?μg/mL;而當在激發和發射兩端同時應用彎晶時,部分輕元素的檢出限可達0.1?μg/mL。
- 譜摩科技提供完整的彎晶套件服務,將設計、制造與調試整合為一體,為客戶提供一站式解決方案。客戶僅需提供光管和探測器,即可快速啟用系統。譜摩科技一直致力于為客戶提供高質量的服務和技術支持,推動彎晶技術在各行業的應用。